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X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀 (XAFS)
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X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀 (XAFS)

X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀 (X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。
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產(chǎn)品描述
參數(shù)

 

技術參數(shù)：

 

 

 

 

核心優(yōu)勢:

 

  • 最高光通量產(chǎn)品

    光子通量高于1000000光子/秒/eV，采譜效率數(shù)倍于其他產(chǎn)品；獲得和同步輻射一樣的數(shù)據(jù)質(zhì)量

  • 優(yōu)異的穩(wěn)定性

    光源單色光強度穩(wěn)定性優(yōu)于0.1%，重復采集能量漂移 < 50 meV

  • 1%探測極限

    高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和極好的光源穩(wěn)定性確保所測元素含量>1%時依舊獲得高質(zhì)量EXAFS數(shù)據(jù)

 

 

 

儀器原理：

X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀 (X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。

 

實驗室單色儀XES測試幾何結(jié)構(gòu)

實驗室單色儀XAFS測試幾何結(jié)構(gòu)

 

mn.jpgMn數(shù)據(jù)，Mn K-edge XAFS數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)與同步輻射光源一致

 

清晰.jpg
Fe樣品Kβ發(fā)射譜數(shù)據(jù)：core to core XES 和 valence to core XES

 

 

 

 

測試數(shù)據(jù)：

Foil EXAFS數(shù)據(jù)

微信圖片_20230619114508.jpg

 

可測元素：綠色部分可測K邊，黃色部分可測L邊

 

 

 

 

應用領域：

工業(yè)催化、儲能材料、納米材料、環(huán)境毒理、也質(zhì)分析、重元素分析等

 

 

 

 

 

 

關鍵詞:
X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀
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